科技双创券服务平台(嘉定)

登录 您好, 退出 注册 用户中心
当前位置: 首页 > 需求大厅 > 详情

芯片测试及失效分析费用

芯片在研发和量产中,因工艺窗口漂移、产线异常或芯片设计等问题,发生功能性失效、良率或可靠性不达标等状况。这种状况下需要将整晶圆或单颗芯片送往测试分析类公司(如胜科纳米、华芯半导体等)做失效分析,以找到出现失效的根本原因,以改进工艺或芯片设计,推进芯片量产。常用的失效分析方法有:红外热点分析、FIB纵向迫切、SEM电镜拍摄、TEM电镜拍摄、截面研磨、EDX化学成分分析、XPS化学成分分析等。

预计投入资金:2000

上海傲睿科技有限公司

有效期:12月

到期时间:Jan 20, 2024 1:53:00 PM

有效 咨询热线:021-59520670